Проведения диагностики детей на Программно-аппаратном комплексе Подоскан в АНО «Родник».


Готов помогать

📌Мы начали проект «Особенные семьи» при поддержке Департамент внутренней политики Севастополя .

В рамках сотрудничества с НКЦ «Технологии здоровья и реабилитации» планируется проведение исследования, направленное на оценку выраженности нарушений в постуральной устойчивости детей с ОВЗ с последующей коррекцией патологии. Использование метода оптической топографии.
В качестве метода коррекции постуральных нарушений планируется использование специальных ортопедических стелек.Стельки изготавливаются индивидуально под каждого ребенка с ОВЗ с учетом его возраста, деформации стопы и даже обуви, которую ребенок как правило носит. Ортопедические стельки планируется изготавливать совместно со специалистами НКЦ «Технологии здоровья и реабилитации» после проведения диагностики детей на Программно-аппаратном комплексе Подоскан в АНО «Родник».Компьютерная плантография (диагностика) стоп ребенка позволяет определить наличие и степень плоскостопия, оценить состояние сводов стопы, снимая при этом отпечаток с подошвенной части стопы – плантограмму. Для этого босого пациента устанавливают на стеклянную платформу плантографа и веб-камерой с углом обзора 120 градусов производят снимок подошвенных поверхностей стоп.Компьютерная диагностика с прямым сканированием позволяет получать качественные отпечатки (без искажения размеров). Программа анализирует и рассчитывает параметры, индексы и углы, которые помогают определить различные нарушения, наличие и тип плоскостопия. Полученные данные могут использоваться для изготовления ортопедической обуви и стелек. Компьютерная плантография имеет важное значение при коррекции разных видов плоскостопия у детей. Регулярное проведение этого исследования позволяет оценить эффективность методов коррекции этой патологии.

Исследования наших подопечных на Подоскане мы уже начали.


Помощь центру АНО Родник - помощь нашим детям

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *